dr inż. Sylwia Babicz-Kiewlicz | Gdańsk University of Technology

Przedmiot Metrologia jest wykładany na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej na trzecim semestrze studiów na trzech kierunkach: Elektronika i Telekomunikacja, Inżynieria Biomedyczna oraz Automatyka, Cybernetyka i Robotyka. W trakcie zajęć laboratoryjnych studenci wykonują sześć ćwiczeń, z których dwa są całkowicie oceniane przez program weryfikujący...

Przedmiot Metrologia jest wykładany na semestrze drugim na trzech kierunkach na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. W ramach wykładu studenci poznają problematykę dokonywania pomiarów. W kolejnym semestrze, przekładają zdobytą teoretycznie wiedzę na praktykę, wykonując pomiary w laboratorium. Z uwagi na wybuch pandemii SARS-CoV-2 w 2020 roku oraz...

The development of advanced metal-oxide-semiconductor sensing technologies for the detection of Volatile Organic Compounds (VOCs) present in exhaled breath is of great importance for non-invasive, cheap and fast medical diagnostics. Our experimental studies investigate the effects of operating temperature selection and UV-light irradiation on improving the response of WO3 nanowire sensors towards exhaled breath exposure. Herein,...

In the paper authors present a special measurement system for observing phase objects. The diffraction phas microscopy makes it possible to measure the dimensions of a tested object with a nanometre resolution. To meet this requirement, it is proposed to apply a spatial transform. The proposed setup can be based either on a two lenses system (called 4 f ) or a Wollaston prism. Both solutions with all construction aspects are described...

The atomic force microscope (AFM) was invented in 1986 as an alternative to the scanning tunnelling microscope, which cannot be used in studies of non-conductive materials. Today the AFM is a powerful, versatile and fundamental tool for visualizing and studying the morphology of material surfaces. Moreover, additional information for some materials can be recovered by analysing the AFM's higher cantilever modes when the cantilever...