Laboratorium wyposażone jest w skaningowy mikroskop bliskich oddziaływań (mikroskop STM/AFM) służący do badania nanometrowych struktur molekularnych.
Tunelowy mikroskop skaningowy STM (ang. Scanning Tunneling Microscope) umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni materiałów przewodzących ze zdolnością rozdzielczą rzędu pojedynczego atomu. Uzyskanie obrazu powierzchni jest możliwe dzięki wykorzystaniu zjawiska tunelowego.
Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) pozwala na oglądanie topografii powierzchni materiałów nieprzewodzących, takich jak ceramika lub tworzywa sztuczne. Jest to możliwe dzięki wykorzystaniu sił oddziaływania międzyatomowego.
Przeznaczenie:
- ocena jakości powierzchni: obserwacja mikro- i nano- struktur powierzchniowych
- ocena jakości powierzchni: mikrotwardości
- ocena jakości powierzchni: magnetycznej lub elektrycznej
- ocena zużycia powierzchni: obserwacja mikro- i nano- pęknięć
- ocena zużycia powierzchni: badania wczesnych procesów powstawania korozji
- ocena zużycia powierzchni: badania zmiany struktury powierzchni w zmiennych warunkach środowiskowych
- ocena zużycia powierzchni: badania procesów ścierania się powierzchni
Kierownik Laboratorium:
dr hab. inż. Jakub Karczewski
Wyświetl profil na
