Wykład prof. Janusza Rajskiego pt. Testowanie układów VLSI
Kategoria: Nauka
Typ: Wykład
Wykład pt. „Testowanie układów VLSI” wygłosi prof. dr hab. inż. Janusz Rajski Mentor, a Siemens Business (USA).
Na wykład zapraszają Katedra Metrologii i Optoelektroniki, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej oraz IEEE Computer Society, Chapter Gdańsk (C16 Gdańsk).
Profesor Janusz Rajski jest absolwentem Politechniki Gdańskiej. W latach 80-tych rozpoczął pracę w Department of Electrical Engineering Uniwersytetu McGill w Montrealu. Prowadził tam wykłady m.in. z projektowania układów i systemów cyfrowych oraz testowania układów cyfrowych wielkiej skali integracji. Współpracował m. in. Z Bell Northern Research, Bell Canada, IBM, czy Canadian Microelectronics Corporation. Od roku1995 profesor jest zatrudniony w firmie Mentor, a Siemens Business, gdzie jest odpowiedzialny za opracowywanie i wdrażanie nowych technologii testowania układów scalonych. Z jego inicjatywy w roku 2008 otwarto w Poznaniu oddział badawczo-rozwojowy tej firmy.